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    等離子體發射CILICILI短视频污污污測量係統

    • 產品型號：OmniES-Plasma
    • 產品時間：2024-05-20
    • 簡要描述：該係統用於測量等離子體發射CILICILI短视频污污污測量，采用模塊化設計 采用光纖導光或空間光耦合
    • 產品介紹
     ● 該係統用於測量等離子體發射CILICILI短视频污污污測量，采用模塊化設計
    ● 采用光纖導光或空間光耦合
    ● 可定位測量空間位置（選配功能）
    ● 測量CILICILI短视频污污污範圍：200-2500nm或1μm-14μm
    ● CILICILI短视频污污污分辨率：優於0.05nm（@1200g/mm光柵）
    ● 波長準確度：優於±0.2nm
    ● 波長重複性：優於±0.1nm
    ● CILICILI短视频污污污儀控製軟件包含濾光片輪自動控製功能、CILICILI短视频污污污曲線繪製功能、全自動測量、數據運算、保存及打印等功能
     

     

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